Всероссийский научно-образовательный форум «Мать и дитя»

Всероссийский научно-образовательный форум «Мать и дитя»

С 27 по 29 сентября в Москве прошел 18-ый Всероссийский научно-образовательный форум «Мать и дитя». В рамках форума были представлены доклады и.о. ректора Университета Дмитрия Олеговича Иванова «Основные проблемы лечения новорожденных детей в стационаре».

Также в ходе мероприятия прошел всероссийский научно-образовательный конгресс «Современные принципы ультразвуковой и лучевой диагностики в акушерстве, гинекологии и перинатологии». По мнению специалистов, современная ультразвуковая диагностика приближается к специальности пропедевтического профиля, поскольку разрабатываются новейшие образцы техники, которые могут быть использованы врачами в качестве визуализационного стетоскопа. Совмещение мероприятий для обсуждения вопросов профильной дисциплины с содружественными ей визуализационными направлениями является положительной тенденцией, поскольку позволяет обеспечить продуктивное развитие специалистов обеих специальностей: акушеров-гинекологов и врачей ультразвуковой диагностики в выработке эффективной стратегии визуализации при различных формах патологии в репродуктивной сфере, неотложных состояниях в акушерстве, распознаванию пороков развития плода. Современная аппаратная база позволяет осуществлять объемную визуализацию в режиме реального времени, расширяя диагностические возможности ультразвука и предлагая более наглядные формы анализа ультразвукового материала при некоторых формах патологии.

Также на полях конференции состоялось неформальное состязание производителей аппаратов ультразвуковой диагностики в демонстрации возможностей трехмерной визуализации в котором принял участие врач Педиатрического университета Артур Ильгизович Имельбаев. Отрадно, что у зрителей вызвало удивление, что и в Российской Федерации при тесном сотрудничестве с сотрудниками СПбГПМУ создаются полноценные системы рентгенодиагностики, ультразвуковой визуализации, компьютерной томографии, не уступающие по клинической результативности иностранным образцам.